VERTEX 80和VERTEX 80v光譜儀是VERTEX系列的高端研究級儀器。其獨具創新的光學設計使得極爲強大的台式吹掃和真空光譜儀成爲可能。它們能夠提供從紫外/可見光（50000 cm-1） 到遠紅外/太赫茲（5 cm-1）的廣泛光譜範圍、極高的光譜和時間分辨率以及卓越的靈活性。多功能VERTEX 80/80v 系統能夠通過其尖端的技術，爲所有高端研究應用提供完美的解決方案。

研究與開發

• 用于幅度/相位調制光譜的連續和步進掃描技術

• 用于高時間分辨率實驗的快速、交叉和步進掃描技術（步進掃描 / 快速掃描 / 交叉掃描時間分辨光譜）

• 對周期性有序微觀材料（即超材料）進行表征

• 用于氣體分析分辨率優于0.06 cm-1的高分辨率光譜

• 用于真空紅外光束裝置的系統化

• 酶催化實驗的停流方法

• 外接超高真空測量腔室

• 用于電極表面和電解質原位研究的FTIR 光譜電化學

制藥

• 測定分子的絕對構（VCD）

• 通過熱分析對藥物当前產品的穩定性和揮發物含量進行表征 (TGA-FTIR)

• 遠紅外譜區區分活性藥物成分多晶型

聚合物與化學

• 遠紅外譜區識別聚合物複合材料中的無機填料

• 聚合物動態和流變學研究

• 測定揮發性化合物及表征熱分解過程 (TGA-FTIR)

• 反應監測和反應控制 （中紅外光纖探頭）

• 識別無機礦物質和顔料

表面分析

• 薄膜和單分子層檢測與表征

• 結合偏振調制進行表面分析 (PM-IRRAS)

材料科學

• 光學和高反射材料（光窗、反射鏡）的表征

• 通過光聲光譜學（PAS）研究深色物質和深度剖析

• 材料的發射行爲表征

半導體

• 矽晶圓中氧和碳含量的測定

• 淺能級雜質的低溫透射和光致發光（PL）測量進行質量控制